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【学术报告】芯片测试技术及其产学研合作

澳门皇冠金沙网站:2016-06-17  浏览数:次  字体:    来源:新闻网

题目:芯片测试技术及其产学研合作

报告人:Jeff Schulze  

报告澳门皇冠金沙网站:2016617日下午4

报告地点:工程技术楼A216  

报告人简介:

Jeff Schulze,系统应用工程师,毕业于California State Polytechnic University. 从事半导体芯片测试20余年,目前就职于Advantest公司,曾经就职于Broadcast Microwave Services, ClariPhY Communications, and Maxlinear Inc. 擅长于机器人电气控制系统的系统可靠性测试、数字芯片测试,混频和射频信号的测试。

欢迎感兴趣的全校师生参加。

                                                       机械学院

                                                     2016617

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